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里氏硬度計(jì)是一種測(cè)試器材,其原理是隨著單片技術(shù)的發(fā)展,1978年,瑞士人Leeb博士提出了一種全新的測(cè)硬方法,它的基本原理是具有一定質(zhì)量的沖擊體在一定的試驗(yàn)力作用下沖擊試樣表面,測(cè)量沖擊體距試樣表面1mm處的沖擊速度與回跳速度,利用電磁原理,感應(yīng)與速度成正比的電壓。
在現(xiàn)場(chǎng)工作中,經(jīng)常遇到曲面試件,各種曲面對(duì)硬度測(cè)試結(jié)果影響不同,在正確操作的情況下,沖擊落在試件表面瞬間的位置與平面試件相同,故通用支撐環(huán)即可。但當(dāng)曲率小到一定尺寸時(shí),由于平面條件的變形的彈性狀態(tài)相差顯著會(huì)使沖擊體回彈速度偏低,從而使里氏硬度示值偏低。因此對(duì)試樣,建議測(cè)量時(shí)使用小支撐環(huán)。對(duì)于曲率半徑更小的試樣,建議選用異型支撐環(huán)。
一、對(duì)被測(cè)試件的一般要求試件表面應(yīng)潔凈,無(wú)灰塵,無(wú)油污和無(wú)氧化皮。
二、對(duì)試件表面溫度的要求試件表面的溫度不能過(guò)熱,要求溫度小于120℃。測(cè)試*溫度為4℃-38℃。
三、對(duì)試件表面粗糙度的要求試件表面粗糙度應(yīng)滿足下表的要求,試件表面的粗糙度不但影響測(cè)試精度,而且影響沖擊球頭的使用壽命。
沖擊裝置類型 | 試件表面粗糙度Ra | 相當(dāng)于原國(guó)標(biāo) |
D DC D+15 E DL | 2μm | 6 |
G | 7μm | 4 |
C | 0.4μm | 8 |
四、對(duì)試件重量的要求
1、對(duì)足夠重的試件不需要支撐,直接進(jìn)行測(cè)試。
2、對(duì)重量不太重的試件,有懸伸部分的試件以及薄壁試件,在測(cè)試時(shí)應(yīng)使用物體支撐,以避免沖擊力引起試件的扭曲、變形和移動(dòng)。
3、對(duì)重量較小的試件,應(yīng)使其與重量大與5kg的支撐體牢牢耦合,要求試件與支撐體表面必須平整、光滑,耦合劑(凡士林,機(jī)油等)用量不宜過(guò)多,測(cè)試方向必須垂直于耦合平面。沖擊裝置與試件重量的關(guān)系見下表:
沖擊裝置類型 | 不需固定支撐 | 需固定支撐 | 需耦合 |
D DC D+15 E DL | 5kg | 2kg | 0.1kg |
G | 15kg | 5kg | 0.5kg |
C | 1.5kg | 0.5kg | 0.02kg |
五、對(duì)試件表面硬化層厚度的要求對(duì)于表面覆有硬化層的試件,為保證測(cè)試精度,要求對(duì)應(yīng)于不同的沖擊裝置試件表面硬化層厚度應(yīng)符合下表規(guī)定:
沖擊裝置類型 | 試件表面硬化層小厚度 |
D DC D+15 E DL | 0.8mm |
G | ------ |
C | 0.2mm |
六、對(duì)板材、管壁型試件厚度的要求對(duì)于板材、管材和其它薄片型試件的測(cè)試,為保證測(cè)試精度,要求對(duì)應(yīng)于不同的沖擊裝置試件厚度應(yīng)符合下表
沖擊裝置類型 | 被測(cè)試件小厚度 |
D DC D+15 E DL | 3mm |
G | 10mm |
C | 1mm |
七、對(duì)曲口試件保證測(cè)試精度的要求使用D型沖擊裝置,要求試件曲面半徑大于30mm;使用G型沖擊裝置,要求試件曲面半徑大于50mm。對(duì)不滿足上述要求的球面、柱面和凹面等曲口試件,為保證測(cè)試精度,應(yīng)采用異型支撐環(huán)(選購(gòu)件)。
異型支撐環(huán)有如下規(guī)格:
1、外圓球面:K10-15mm,K14.5-30mm。
2、內(nèi)圓球面:HK11-13mm,HK12.5-17mm,HK16.5-30mm。
3、外圓柱面:Z10-15mm,Z14.5-30mm,Z25-50mm。
4、內(nèi)圓柱面:HZ11-13mm,HZ12.5-17mm,HZ16.5-30mm。
5、特殊外形:UN
八、對(duì)試件表面無(wú)磁性的要求試件表面不能帶有磁性,帶有磁性的試件將影響測(cè)試精度。要求試件剩磁應(yīng)小于4G。
九、對(duì)試件無(wú)振動(dòng)的要求測(cè)試時(shí),試件所處的四周環(huán)境不應(yīng)有振動(dòng),否則會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。
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